N. Hayashi;
V. Parail;
F. Koechl;
N. Aiba;
T. Takizuka;
S. Wiesen;
P.T. Lang;
N. Oyama;
T. Ozeki;
JET-EFDA contributors;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
P.B. Snyder;
N. Aiba;
M. Beurskens;
R.J. Groebner;
L.D. Horton;
A. Hubbard;
J. Hughes;
G.T.A. Huysmans;
Y. Kamada;
A. Kirk;
C. Konz;
A.W. Leonard;
J. Lönnroth;
C.F. Maggi;
R. Maingi;
T.H. Osborne;
N. Oyama;
A. Pankin;
S. Saarelma;
G. Saibene;
J. Terry;
H. Urano;
H.R. Wilson;
JET EFDA contributors;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
C. Giroud;
S. Jachmich;
P. Jacquet;
A. Jarvinen;
E. Lerche;
F. Rimini;
L. Aho Mantila;
N. Aiba;
I. Balboa;
P. Belo;
C. Angioni;
M. Beurskens;
S. Brezinsek;
F.J. Casson;
I. Coffey;
G. Cunningham;
E. Delabie;
S. Devaux;
P. Drewelow;
L. Frassinetti;
A. Figueiredo;
A. Huber;
J. Hillesheim;
L. Garzotti;
M. Goniche;
M. Groth;
Hyun-Tae Kim;
M. Leyl;
;
P. Lomas;
G. Maddison;
S. Marsen;
G. Matthews;
A. Meigs;
S. Menmuir;
T. Puetterich;
G. van Rooij;
S. Saarelma;
M. Stamp;
H. Urano;
A. Webster;
JET EFDA contributors;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
N. Hayashi;
V. Parail;
F. Koechl;
N. Aiba;
T. Takizuka;
S. Wiesen;
P.T. Lang;
N. Oyama;
T. Ozeki;
JET EFDA Contributors;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
